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分類： 新聞資訊
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薄膜沉積技術與應用
薄膜沉積技術作為一種重要的材料制備方法，廣泛應用于電子器件制造、光學鍍膜、新能源領域以及功能性薄膜等諸多領域。…
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ITO薄膜方阻測量
ITO 薄膜即銦錫氧化物半導體透明導電膜， 通常有兩個性能指標：方塊電阻(面電阻)和透過率 ITO 薄膜 在氧…
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電阻率的三種測量方法
測量導體電阻率的方法是通過一對引線強制電流流過樣品，用另一對引線測量其電壓降來決定已知幾何尺寸的樣品的電阻。 …
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四探針測量原理
四探針法是一種簡便的測量電阻率的方法。 四探針法測量電阻率有個非常大的優點：它不需要較準，有時用其它方法測量電…
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STZ—3型半導體導電型號鑒別儀：精準高效的材料檢測利器
在現代半導體工業中，硅單晶材料的導電類型（“P”型或“N”型）是決定其應用性能的關鍵參數之一。為了滿足半導體材…
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四探針電阻率測試儀選購指南：這些坑你一定要避開！
在半導體、新能源、材料研發等領域，四探針電阻率測試儀是衡量材料導電性能的核心工具。無論是硅片、薄膜材料，還是石…
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粉末電阻率測試儀選購指南：DeepSeek教你避開這些坑！
在材料科學、新能源、電子制造等領域，粉末電阻率測試儀是一個不可或缺的工具。無論是研發新材料，還是優化生產工藝，…
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半導體材料工程師怎么可以不知道SZT-2C四探針測試儀
精準測量電阻率、方塊電阻等參數直接影響著材料的性能和器件的可靠性。這在半導體材料研發和生產過程中起著至關重要的…
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硅材料復合測試儀SZT-5：電子工程師和研究人員的得力助手
這款由蘇州同創電子有限公司研發的硅材料復合測試儀SZT-5，結合了二種硅材料測試儀器的功能，為用戶提供了前所未…
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粉末電阻率測試儀選購指南：避免這5個常見誤區！
在選購粉末電阻率測試儀時，避免以下幾個常見誤區是非常重要的： 在選購粉末電阻率測試儀時，應綜合考慮儀器的精確度…